X熒光光譜中的分析誤區(qū)

X熒光光譜儀由于具有分析快速、制樣簡單，準確度高、對環(huán)境無污染等優(yōu)點，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域，成為理化檢驗不可或缺的設(shè)備。X熒光光譜分析的發(fā)展歷史較長，是隨科技的全面進步，進行了無數(shù)次的革命性的改進，其硬件及軟件由初的單純定性發(fā)展直至今天的精確的定量分析。

正是由于這些時代的烙印，才使得人們習慣了引用學習，照搬一些現(xiàn)成的成果，才忽略了儀器發(fā)展的新技術(shù)及新水平，使得有些人在X射線熒光光譜分析工作中，存在一些認識上的誤區(qū)，對我們的儀器使用及儀器效能的發(fā)揮起到了負面的作用，有些還對儀器的使用壽命產(chǎn)生了影響。

由于X射線熒光的能量比較大，樣品被激發(fā)后，產(chǎn)生的特征X射線極易被吸收，而從樣品中發(fā)射出來的熒光很少，也即是熒光產(chǎn)額很少。因此采用X熒光光譜儀測量微量元素，不是特長，因此不要把精力過分地放在低含量元素分析上。

同理，對于輕元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的檢出限；但對于高含量的輕元素分析，卻有很高的精度。

本人曾分析生鐵中3%左右的碳，標準偏差不超過0.1%；分析鉬鐵中60%左右的鉬，誤差不超過0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，誤差不超過0.3%等。而對微量元素，鎂的檢量限，低于0.01%，峰幾乎沒有了；鈉，低于0.05%，峰也沒了，連強度都沒了還怎么測？由此說明X熒光光譜儀適合于高含量分析，而不適合微量元素的分析。

經(jīng)常有些調(diào)研、參觀的應(yīng)用人員問我：你用X熒光光譜儀分析什么樣品？

我對他說，你應(yīng)該問我什么不能用熒光分析。什么意思？就是幾乎任何樣品都可以用熒光分析，但不是全部元素。

例如:鐵礦石,你沒必要分析其中的氟、硼等，測也測不準，又如錳鐵合金，壓片測錳元素測不準，你可以測其它元素如硅、錳、磷等還是很準的。又如螢石，你可能氟測不準，但你可以測量元素其它元素。

當然以上都要進行強度校正，如果系數(shù)過大，也可以采用參考濃度校正。

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